高速串行通信 | Tektronix

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PCI Express Motherboard

自动化测试和调试

高速数字标准正在迅速发展，以支持数据驱动世界的性能需求。下一代串行标准和数据通信要求带来了新的测试挑战，突破了当今合规性和调试工具的极限。从设计和模拟、分析、调试到一致性测试，泰克提供自动化电气测试解决方案，以优化性能、加快验证周期并加速产品上市。

对高性能计算标准进行准确、可重复的测试

在数据中心、人工智能 (AI) 和高性能计算等数据密集型市场中，对更高数据吞吐量和更大存储容量的需求持续增长。更高的数据传输速率带来了复杂的设计，这些设计突破了信号完整性的界限，并需要进行更高的性能测量才能实现一致性以及进行调试和验证。泰克的自动化测试解决方案确保准确性和可重复性，使工程师能够应对这些挑战，从而测试他们的最新设计。

PCI Express (PCIe) 和 CXL

内存（DDR 和 LPDDR）

存储（SAS 和 SATA）

PCIe Motherboard

Consumer Electronics

缩短了测试消费类技术的时间

创新的步伐正在刺激对更新、更快的消费类设备的需求。开发这些设备所依据的标准在提高数据速率和设计复杂性方面带来了新的测试挑战。泰克测试解决方案提供准确、可重复的测量，并缩短了测试时间，确保符合最新的规格。

显示屏（DisplayPort 和 HDMI)

MIPI（M-Phy、D-Phy、C-Phy 和 UFS）

用于以太网设备设计的全面工具

以太网为包括超大规模数据中心和企业系统以及汽车和工业应用在内的各种应用场合提供网络连接。泰克提供全套工具，支持在这些生态系统中测试、开发和调试 IEEE 802.3 以太网设备的物理层。

以太网（10M 到 400G 及以上）

Ethernet

Jitter

高级测量和分析工具

泰克的 SDLA、PAMJET 和 DPOJET 软件为高速串行标准提供强大的信号分析工具。无论是使用 PAMJET 分析最新的 PAM4 信号、使用 SDLA 反嵌波形，还是使用 DPOJET 进行抖动/噪声分析，泰克都能提供您需要的工具。

抖动测量和定时分析 (DPOJet)

反嵌和接收机均衡 (SDLA)

PAM 信号的电气和定时分析 (PAMJet)

资源

PCIe

在线研讨会

PCIe 第 6 代 PAM4 信号

查看对 PCI Express 第 6 代的验证要求的探讨，为下一个 PCI Express 转折点做好准备。我们回顾了新引入的发射器测量，包括 SNDR 和不相关的抖动，并展示了使用真实实验室数据对 32GBaud PAM4 进行接收器测试所需的受压眼图校准。

USB

在线研讨会

应对 USB4 一致性和特性测试挑战

查看我们的 USB4 一致性和检定测试网络研讨会，了解如何应对与新 USB4 标准相关的测量挑战。

LPDDR

在线研讨会

解决关键的 LPDDR5 DRAM 测试挑战

解决关键的 LPDDR5 DRAM 测试挑战，了解测试小贴士和技巧，以应对此移动内存标准所带来的设计挑战。

Mobile Device Communication

应用指南

MIPI D-PHY 物理层的自动化一致性测试

概要了解 MIPI D-PHY 物理层和电信号，包括关键测试和有关探测、夹具和测试设置的探讨。

Ethernet

视频

使用 Synopsys 发射机 PHY 的 112 Gb/s 以太网演示

随着 802.3ck 批准的临近，对电气检定的需求尤其在增加。本演示重点介绍了 53 GBd Synopsys® 112G PHY IP 发射机的新一代端到端检定测试。

DDR

白皮书

DDR5 内存验证和调试

该行业正在从 DDR4 过渡到新一代 DDR 内存标准。DDR5 带来了在实施和验证过程中必须克服的新挑战。