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应用和行业

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WEBセミナ

在线研讨会

テクトロニクス・イノベーション・フォーラム2024オンライン

10/9/2024 - 11/27/2024

9:30 AM - 11:40 AM JST

【10/9(水)~11/27(水)にかけて全16セッションを配信する充実のセミナ・イベント】
ハイパワー半導体、高速通信インタフェース、高速伝送路、RF解析、電源設計・評価関連などの計測ソリューションに加え、初心者向けの自動計測入門、微小電圧電流測定、オシロスコープの使い方応用などのセミナもご用意しております。ぜひご登録ください。

应用和行业

亚太

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ONLINE展示会

展会

"くるまからモビリティへ”の技術展 2024 ONLINEに出展

11/11/2024 - 11/29/2024

10:00 AM - 6:00 PM JST

テクトロニクスは現在開催中の“くるまからモビリティへ”の技術展 2024 ONLINEに出展しております。ハイパワー半導体向けのダブル・パルス・テストをはじめ、新製品の超低ノイズを実現したアイソレーション型電流プローブや、大電力DC電源/電子負荷/双方向電源など各種ソリューションをご紹介しております。また、オンライン・セミナとして「SiC/GaNパワー・デバイスのスイッチング特性評価の最新手法」がご視聴いただけます。ぜひご参加ください。

汽车

应用和行业

亚太

区域

対面セミナ

现场研讨会

テクトロニクス計測技術セミナ・プローブ編 in 名古屋

11/22/2024

10:00 AM - 4:00 PM JST

名古屋市および周辺地域のお客様に向け、計測の基礎となるプロービングの入門講座、および電源評価における最新の技術トレンドや計測ソリューション、プローブの活用術をご紹介いたします。

10:00 - 12:00 プローブ入門セミナ
12:00 - 13:30 質疑応答・実機デモ 昼食休憩
13:00 - 15:30 プローブ活用術セミナ
15:30 - 16:00 質疑応答・実機デモ

会場では実機デモの他、計測関連のお悩みや計測課題などもお気軽にご相談いただけます。

Power Electronics

应用和行业

亚太

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现场研讨会

「2024 電源技術論壇」 高效功率元件與AI伺服器技術應用和設計挑戰

12/4/2024

9:00 AM - 4:40 PM CST

隨著功率半導體與AI技術的迅速演進,AI伺服器對高效穩定的電源需求越發迫切,功率元件的設計與測試已成為關鍵挑戰。未來電源系統不僅需要提升轉換效率,更要確保伺服器在高負載下的穩定性與可靠性,這為電源設計與測試帶來了前所未有的機遇與挑戰。

為協助您應對這些技術變革,Tektronix將於12月4日舉辦「2024 電源技術論壇」。此次論壇匯聚行業尖端專家,並特別邀請碇基半導體與羅姆半導體深入剖析GaN、SiC等新一代功率半導體技術,揭示其在資料中心與AI伺服器等高效能應用中的關鍵角色。

除此之外,我們精心規劃了一系列熱門議題,涵蓋元件設計到電源測試解決方案的核心技術並分享如何優化電源系統的效能與可靠性,為您提供前瞻性的專業見解與實用方案。誠摯邀請您參加這場技術盛會,與業界尖端專家零距離互動,共同探討最新電源技術與應用解決方案,攜手應對挑戰,掌握未來技術先機。

半导体

应用和行业

亚太

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展示会

SEMICON Japan
展会

SEMICON JAPAN 2024

12/11/2024 - 12/13/2024

10:00 AM - 5:00 PM JST

材料、部品、半導体デバイスなどのあらゆる研究/開発フェーズにおけるオン・ウェハ特性評価や信頼性試験、不良解析などの作業効率化と導入コストの低減へのソリューションとともに、量産テストに貢献するソリューションをご提案します。

日時:12月11-13日(水ー金)10:00~17:00

場所:東京ビッグサイト https://www.bigsight.jp/visitor/access/

ブース位置:東1/2/3ホール #2022

Power Electronics

应用和行业

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在线研讨会

計測機器の基本的な取扱いについて(初級者用) ‐ 校正の必要性、計測機器の維持管理‐

按需

このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者
  • 初めて計測機器の校正管理に携わる方
  • 計測機器の正しい校正方法を学びたい方
■ 所要時間 35分

校准和测试服务

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オンデマンドWebセミナ

Oscilloscope Primer by 2 series on demand

オシロスコープ入門 - 初心者向け (前編/後編 )

按需

テクトロニクス最新型2シリーズ・オシロスコープを使った初心者向けのオシロスコープ入門セミナです。
オシロスコープ使用にあたって覚えておくべき基本項目について説明します。
プローブ補正、トリガ設定、自動測定など、前編/後編で解説します。
間違った操作の防ぎ方、オシロスコープの使用における誤解など基本にして必須の知識をご説明します。

オシロスコープ入門 前編 【所要時間:47分】
オシロスコープ入門 後編 【所要時間:54分】

合规与预合规

应用和行业

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在线研讨会

[On Demand] Tektronix 4/5/6 Series MSO Latest New Features

按需

Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

Register today!

嵌入式设计

应用和行业

亚太

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WEBINAR

在线研讨会

[On Demand] Optimizing the Battery Performance of Everyday Devices with Keithley

按需

As battery-powered devices have become a staple of everyday life, battery performance has become a critical factor in device design. Due to the criticality of battery performance, along with the wide range of battery types, test and design engineers working with battery powered devices need a faster way to optimize their device’s performance and battery life.

When Keithley’s KickStart Software, and the KickStart Battery Simulator App is paired with the 2281S, battery model generation becomes simple. KickStart Software’s intuitive interface, model editing abilities, and battery model repository allow the test and design engineer to create battery models at different conditions and test their device against these various models quickly.

Join us for this live webinar to learn more on Keithley solution today!

工业

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Got Jitter? Diagnosing Power Integrity and Signal Integrity Problems

Are the bit errors in your data caused by the power supply or sources inside the digital channel? Let's end the dispute.

Webinar

SiC/GaN Components: 5 Key Tests

Learn techniques for high power characterization of Silicon Carbide (SiC) and Gallium Nitride (GaN) components.