DDR3 和 LPDDR3 测量和分析

通过 6 系列 MSO 上的 DDR3/LPDDR3 自动符合性套件（选件 6-CMDDR3）和 DDR3/LPDDR3 测量与分析功能（选件 6-DBDDR3），更深入地了解存储器设计。通过集成 DDR 软件、示波器、高性能模拟和数字探头，您可以详细准确地测量 DDR 设计的幅度、定时和眼图，检验其是否满足联合电子器件工程协会 (JEDEC) 的电气和定时规范。数字探头可帮助了解 DDR 总线的控制信号。6 系列 MSO 中的 12 位模数转换器以业内超低的噪声提供了高度精确的测量数据，您可以实现全新的调试效率和测量可靠性。

主要功能

• 按照规范完成对 DDR3 和 LPDDR3 测量的测试覆盖范围和全自动符合性测试，包括数据和时钟的眼图测试。

• 能够同时定义读搜索和写搜索，并在长记录长度上对符合条件的突发执行特定的 DDR 测量。

• 能够按照规范为每个测量设置电压阈值水平。

• 用于配置和执行 DDR 电气验证的直观用户界面和工作流程。

• 轻松在示波器上从符合性测试环境切换到调试环境，以便更深入地了解测试故障。

• 有选择地在符合性测试套件内保存设置文件，从而能够在执行后调出示波器状态。

• 自动生成报告，以 .MHT、.CSV 或 .PDF 文件格式保存测量数据、测试结果和波形图像。CSV 格式可帮助根据用户的需求解析和自定义测试报告

  支持不同内存标准使用的各种插补器，拥有同类领先的探头，满足信号完整性要求。

使用选件 6-CMDDR3 完成 DDR3/LPDDR3 自动测试

选件 6-CMDDR3 解决方案让您可以执行自动化 DDR3 和 LPDDR3 符合性测试。此解决方案与选件 6-DBDDR3 结合使用，可添加和配置特定的测量以及在分析后提取结果。这有助于用户避免手动保存和调出示波器设置文件。python 排序器可快速执行 100 个以上的测量，确保快速完成测试验证。

DUT 面板用于选择设备类型和设备配置文件（包括 DDR 设备支持的速度等级）以及配置 Vdd 和 Vref 设置。

6-CMDDR3 DUT 面板

用户可以选择提供与信号路径中使用的硬件组件相关的滤波器文件 (.flt)，从而使用示波器 MATH 子系统在分析前从采集的信号中去除嵌入。

DDR 信号在本质上是突发信号。对于 DDR 测试，第一步是分隔和限定有效的读突发和写突发。然后对这些符合条件的突发执行测量。

DUT 面板为用户提供了几种突发检测方法：

1. DQ/DQS 相位校准
2. 使用片选信号进行 DQ/DQS 相位校准
3. 逻辑探头和突发脉冲延迟

根据探测机制，用户可以选择信号类型设置，这有助于在执行期间相应地配置信号源。

通过使用探头模式，用户可以更改探头配置。

选件 6-CMDDR3 可支持 DUT 面板中的“信号调试”模式。此模式可帮助用户手动配置示波器设置，而不会被自动化软件覆盖设置。在此模式中，用户可以提供“通道”、“参考”或“MATH”作为软件的输入。

测试选择面板将 DDR 测量列为逻辑组，具体取决于在 DUT 面板中选择的信号类型。这可帮助用户自动完成测量，而无需手动干预。支持对数据和时钟信号的眼图测试，这超出了合格性要求，使用户可以更深入地了解存储器设计。

运行 DDR3 时钟眼图的 6-CMDDR3

执行完成后，软件会生成详细的测试报告，其中包含设置信息、测试摘要和详细结果，包括通过失败状态、限制和测试特定图像。

含有 DDR3 眼图测试结果的 6-CMDDR3 报告文件

为了调试测试错误，泰克提供已集成在示波器测量子系统中的 6-DBDDR3 测量包，帮助用户轻松配置和测试其存储器设计。

使用选件 6-DBDDR3 进行 DDR3 调试

选件 6-DBDDR3 可以捕获长记录，根据选择的测量自动分隔读突发和写突发，在多个读突发或写突发上执行测量。您可以定义多个读和写搜索、对符合条件的搜索持续运行 DDR3/LPDDR3 测量，并对结果执行统计分析。

在执行 DDR3 电测试和定时分析时，6 系列 MSO 示波器必须具有推荐的 8 GHz 带宽，以便涵盖整个 DDR3 速度等级范围。但是，对于信号完整性测试和调试，最低 4 GHz 的带宽就足以满足大多数用户的需求。

仅需点击屏幕两次，即可打开 DDR 测量菜单。

自动检测读写突发

某些 JEDEC 符合性测量要求隔离内存总线上的关心事件（例如读突发或写突发），符合性解决方案会自动进行此处理。

为进行调试，可能需要按特定的秩或列隔离特定事件，或隔离特定数据码型，以分析信号完整性问题，比如数据相关抖动、定时或噪声问题。实现这一目标的最简单的方式，是使用 DQS（Data Strobe 信号），识别读突发或写突发的开头。例如，DDR3 在写开头一直声称 DQS 为高，或在读开头声称 DQS 为低。

通过 6 系列 MSO 示波器上的可视触发功能，您可以进一步调节传统触发，实现更加多样化的 DQS 突发捕获功能。通过可视触发，您可以在波形画面上直接创建类似模板的区域，区域边界可以帮助您为 DQS 或 Data Strobe 信号定义触发事件。

可视触发功能让您可以添加标准区域或用户指定区域，在特定触发条件下触发 DDR3 波形。

使用选件 6-DJA 测量和可视触发调节源波形得到 DDR3 信号的眼图。

化繁为简

每种内存技术的 JEDEC 规范都包含大量的合规测量，如时钟抖动、建立时间和保持时间、跳变电压、信号过冲和下冲、转换速率及其他电质量测试。如果使用通用工具，那么这些指标测量起来会非常复杂。

由于 JEDEC 规定的测量方法要求基准电平、通过/失败极限等，因此拥有 DDR 测试使用的专用测量工具就有了异常重要的意义。选件 6-CMDDR3 旨在针对指定器件正确设置 DDR 测量。6-CMDDR3 提供了大量的测量，符合 JEDEC 规范。您也可以利用选件 6-DBDDR3 来量身定制设置，测量非标准器件或系统实现方案。

选件 6-CMDDR3 与选件 6-DJA（高级抖动分析）配套使用时，提供了抖动和眼图分析工具。这两种模块相结合，为 DDR 测试和调试提供了强大、灵活、简便易用的测试套件。

DDR 搜索功能

DDR 搜索功能可以在整个波形采集中搜索特定信号条件（比如 DDR 读/写），并在满足条件的位置标记波形。除将标记用于进行可视分析外，示波器还可以将这些标记用作 DDR 特定测量的限定符，这样就只会在数据流的相应位置进行测量。搜索程序中的搜索算法利用以下事实因素：ddr 相位关系对于 DDR 读取和写入搜索是不同的、DQ 和 DQS 对于读取是同相而对于写入是 90 度异相。它还支持基于片选 (CS) 信号和数字信号（片选 (CS)、行访问选通 (RAS)、列访问选通 (CAS) 和“写启用”源 (WE)）的突发脉冲识别。

用于调试故障的步骤

内存调试过程中的第一步是定义搜索。这可以通过单击示波器上的“搜索”按钮并对读突发脉冲或写突发脉冲定义 DDR 搜索来实现。下一步是从 DDR 选项卡添加测量，并配置这些测量。此配置过程涉及提供搜索以作为测量的输入，以及定义信号源。由于要配置众多测量，所以我们建议手动配置一次测量 ，并保存示波器设置文件。当您下次想要调试时，可以很容易地调出波器设置文件，这将恢复示波器的所有已配置测量，并可根据需要进行编辑。

在设置完成并选择 <Run>（或 <Single>）后，示波器会采集关心的信号、识别和标记符合条件的数据突发，并更新所选测量的结果。

随 6-DBDDR3 套件提供的出厂设置文件基于行业标准测量设置构建，因此如果您的测试设置与默认设置文件不同，那么您可能需要修改一次设置并保存这些设置。

您可以单击示波器屏幕上的“结果表”按钮，以表格形式查看结果。结果表显示所有测量结果及其统计总量、来源和其他相关数据。您可以生成报告，有一个选项是保存进行这些测量时使用的波形数据。

详细的结果显示 DDR3 信号判定合格的突发。

详细的测试报告及设置细节、测量结果和波形图像。

DDR3主内存插补器

接入内存芯片上的信号测试点，在DDR测试中是一个重大挑战。JEDEC标准要求应在内存元件的球栅阵列(BGA)栅球输出上进行测量，而这些连接很难接入。

泰克与Nexus Technology¹合作，提供多种探测选项，如BGA插补器，其支持各种外形的不同内存器件。插补器包括一个嵌入式尖端电阻器，这个电阻器位于BGA焊盘附近。DDR3主内存以标准BGA元件封装及DIMM和SODIMM双列直插模块方式提供。

标准BGA封装直接焊接到印刷电路板(PCB)上，而双列直插模块则包括标准PCB格式的一系列封装，DIMM和主电路板之间采用标准连接。插补器既可用于元件封装，也可用于DIMM和SODIMM模块。

引入插补器和示波器探头可能会改变信号特点。使用反嵌滤波器可以消除插补器和探头在信号路径中的影响，精确表示探测点上的信号。

¹如需详细的插补器列表，敬请访问：http://www.nexustechnology.com

EdgeProbe插补器

Nexus Technology的EdgeProbe™插补器适用于DDR3、LPDDR3和其他新内存产品。它的机械空间很小，因为探测点在插补器的边缘。头可以直接连接目标器件，接入时钟信号、命令总线信号、选通信号和地址信号。

EdgeProbe设计消除了机械间隙问题，因为插补器的尺寸与内存元件相当。过在所有信号上提供集成示波器探头，插补器内部的嵌入式电阻器把示波器探头尖端电阻器的位置放得距BGA焊盘非常近。

EdgeProbe插补器

带插座的插补器

带插座的插补器一般可以接入所有元件信号，把插补器抬高到相邻元件上方，获得机械间隙。这种解决方案提供了一个定制插座，插座安装在目标器件上；另外还有一个插补器，安装方式是把插补器按到插座中。解决方案中设计有固定机制，从目标插座上拉下没有固定的插补器，即可拔出插补器。

以把内存元件直接焊到插补器上，也可以在插补器上有一个插座。插补器上的插座允许手动插拔内存元件，简便地评估不同厂商的内存元件。在测试结束时，可以拔下插补器，然后把内存器件直接插到目标器件的定制插座中，从而消除插补器的影响。

直接附着插补器

直接附着插补器可以探测所有信号，直接安装到目标器件上。目标器件必须为插补器留出机械间隙。直接附着插补器通常用于综合封装(PoP)元件。

直接附着插补器

用于 DDR3 测量的 TDP7700 系列 TriMode 探头

泰克TDP7700系列TriMode探头旨在解决DDR3测量挑战。TDP7700与6系列MSO一起使用，支持对探头和尖端的信号路径进行全面AC校准，为实时示波器提供了出色的探头保证度。创新的新型探头设计采用SiGe技术，提供了当今及未来所需的带宽和保真度。

TriMode探测可以在一个探头设置中同时准确地进行差分测量、单端测量和共模测量，提高测试效率。由于这种独特的功能，您可以在示波器上，在差分测量、单端测量和共模测量之间切换，而不用移动探头的连接点。

TDP7700在连接方面有一项关键创新，是使用焊接探头尖端，探头的输入缓冲器距尖端只有几毫米的距离。这种方法可以异常简便地连接DDR3电路。

TDP7708探头拥有高阻抗输入和TriMode功能，减少了进行DDR3测量所需的探头数量。

其他TDP7700系列探头特点包括：

• 20 GHz以下杰出的步进响应，低插入损耗
• 低DUT负载，100 kΩ (DC)和0.4 pF (AC)性能
• 高共模抑制比(CMRR)
• 低噪声

用于数字测量的 TLP058 FlexChannel^®逻辑探头

6 系列 MSO 提供数字通道功能，可对整个内存总线执行完整的协议分析。TLP058 FlexChannel® 逻辑探头将泰克 6 系列 MSO 连接到被测设备 (DUT) 上的数字总线和信号。该探头包含 8 个数据通道，并将 TLP058 逻辑探头连接到任何 FlexChannel 示波器输入通道。

TLP058 提供高性能数字输入。

配置使用 TLP058 探头进行的 DDR3 数字测量。