在数字,模拟以及射频设计中,经常需要产生各种类型的信号来模拟系统产生的信号,或者被测系统需要接收的信号以及被测系统所处的信号环境.以验证系统的发送,接收的稳定性和性能.通过泰克的任意波形发生器就能够模拟各种工程师所需要的信号.本主题将介绍如何通过泰克的AWG任意波形发生器产生高速串行标准信号,雷达信号,OFDM,数字调制信号,激光脉冲,环境噪声以及各种用户自定义的信号.
吉时利大功率器件参数分析系统
吉时利创新的大功率器件参数分析系统,结合了晶体管图示仪与参数分析仪的精度和灵活性的特点,提供高功率器件MOSFETs, BJTs, triacs, diodes, IGBTs 等设计与开发应用所需的功率,高达3,000V和100A。具有高度灵活性和易用性的7种完整方案,满足客户对不同器件类型,不同电压、电流和功率的广泛测试需求。
吉时利大功率HB-LED 的测试方案
可靠、准确的电气测量对于高亮度LED的量产至关重要,因此准确理解LED的电气测量原理非常关键。通过参加此研讨会,您将了解和理解LED和HB-LED的常见测试项目,以及测试测量挑战,包括LED自热效应以及如何避免自热效应,如何将正向电压与结温联系起来,噪声在正向电压测量中的影响,直流和交流LED测试之间的差别等专业问题。
新材料 新挑战 新测试 新方案 - 吉时利材料电学特性分析系列
通过参加此研讨会,您将了解经典的吉时利微弱信号测试理论与应用, 完整的精密太阳电池测试方案,光电器件测试方案,测量石墨烯霍尔栅条方法,以及使用吉时利产品轻松实现DC、I-V、C-V和脉冲测试测量,表征新材料、新器件的电学特性。
吉时利半导体特性参数分析系列
吉时利半导体特性参数系列,包括台式全系列SMU,4200-SCS半导体特性分析系统和S530型全自动参数测试系统。从亚fA电流分辨率的精密测试到100A的大电流高功率测试应用,从低功率电子产品到高功率3000V,100A的测试应用,从器件特性分析,材料特性分析,到晶圆级可靠性分析, 吉时利的半导体特性参数分析系列,包括最新的大功率参数测试系统(PCT)产品,将更全面的覆盖半导体参数测试的应用。