目前在计算机/通讯以及消费电子设备中,已经使用了越来越多的高速串行接口,比如PCIE,SATA,HDMI,MHL,thunderbolt,USB3,Displayport,SFP+,10G-KR,10Gbase-T等等,这些接口使设备的性能得到了大幅度的提高,但同时也导致系统设计的复杂性大大提升,而且这些接口相互之间的兼容性也可能会存在各种问题.为了保证这些设备的高速接口的性能和兼容性,需要对它们进行性能的验证和一致性测试.本主题将对各种高速接口的原理架构进行基本的介绍,同时提供相应的测试方案对这些接口进行验证.
数字,模拟,射频以及用户自定义信号的模拟和产生
在数字,模拟以及射频设计中,经常需要产生各种类型的信号来模拟系统产生的信号,或者被测系统需要接收的信号以及被测系统所处的信号环境.以验证系统的发送,接收的稳定性和性能.通过泰克的任意波形发生器就能够模拟各种工程师所需要的信号.本主题将介绍如何通过泰克的AWG任意波形发生器产生高速串行标准信号,雷达信号,OFDM,数字调制信号,激光脉冲,环境噪声以及各种用户自定义的信号.
吉时利大功率器件参数分析系统
吉时利创新的大功率器件参数分析系统，结合了晶体管图示仪与参数分析仪的精度和灵活性的特点，提供高功率器件MOSFETs, BJTs, triacs, diodes, IGBTs 等设计与开发应用所需的功率，高达3,000V和100A。具有高度灵活性和易用性的7种完整方案，满足客户对不同器件类型，不同电压、电流和功率的广泛测试需求。
吉时利大功率HB-LED 的测试方案
可靠、准确的电气测量对于高亮度LED的量产至关重要，因此准确理解LED的电气测量原理非常关键。通过参加此研讨会，您将了解和理解LED和HB-LED的常见测试项目，以及测试测量挑战，包括LED自热效应以及如何避免自热效应，如何将正向电压与结温联系起来，噪声在正向电压测量中的影响，直流和交流LED测试之间的差别等专业问题。
新材料 新挑战 新测试 新方案 - 吉时利材料电学特性分析系列
通过参加此研讨会，您将了解经典的吉时利微弱信号测试理论与应用， 完整的精密太阳电池测试方案，光电器件测试方案，测量石墨烯霍尔栅条方法，以及使用吉时利产品轻松实现DC、I-V、C-V和脉冲测试测量，表征新材料、新器件的电学特性。
吉时利半导体特性参数分析系列
吉时利半导体特性参数系列，包括台式全系列SMU，4200-SCS半导体特性分析系统和S530型全自动参数测试系统。从亚fA电流分辨率的精密测试到100A的大电流高功率测试应用，从低功率电子产品到高功率3000V，100A的测试应用，从器件特性分析，材料特性分析，到晶圆级可靠性分析， 吉时利的半导体特性参数分析系列，包括最新的大功率参数测试系统（PCT）产品，将更全面的覆盖半导体参数测试的应用。